繞線元件的測(cè)試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕 緣電阻測(cè)試、繞線元件脈衝測(cè)試(IWT)及直流電 阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測(cè)試整合於19036繞線元件 電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電 熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓 繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí)，不但 擁有可靠的測(cè)試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把 關(guān)。

線圈自體絕緣**通常是造成線圈於使用環(huán)境中 發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。 其形成原因可能源於初始設(shè)計(jì)**、加工製程不 良，或絕緣材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī) 測(cè)試製程中加入線圈層間短路測(cè)試，即可多組繞 組一次掃描測(cè)試完成，進(jìn)一步的提升繞線元件品 質(zhì)。

19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能，具備6kV脈衝電 壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形 顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian) 等判定，提供線圈自體絕緣**有效的檢測(cè)方 法。

19036專利設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口，包含 Drive 與 Sense並符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的 四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭 配16通道掃描盒*多可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。

19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，快速掃描確 認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線元件接觸不 良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問(wèn)題。

馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī) 綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè) AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)於漏電流較大或 大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者，高功率的耐壓 測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合於一臺(tái)綜合測(cè)試儀，將 為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來(lái)*大的效益，500VA的設(shè) 計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。

產(chǎn)品應(yīng)用 
旋轉(zhuǎn)電機(jī)元件：△ / Y馬達(dá)、風(fēng)扇、轉(zhuǎn)子/ 定子 從電動(dòng)車主馬達(dá)、伺服器馬達(dá)、揚(yáng)昇馬達(dá)與風(fēng)扇 等所有旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品，其製程中會(huì)進(jìn)行脈衝測(cè) 試 、耐壓測(cè)試及直流阻抗量測(cè)等測(cè)試來(lái)確保產(chǎn) 品品質(zhì)。並參考JB/T 7080國(guó)標(biāo)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí) 行測(cè)試。19036之直流電阻量測(cè)上可進(jìn)行四線式 量測(cè)，單端點(diǎn)包含Drive和Sense共10組獨(dú)立通道 讓您可以一次掃描測(cè)試三顆待測(cè)物，提高生產(chǎn)產(chǎn) 能。每個(gè)通道可分別設(shè)定為高壓輸出/參考端/關(guān) 閉。

△與Y型馬達(dá)繞組 
- HSCC / OSC 
- DCR Test 
- Impulse Test 
- Hi-pot –Sub step test

△與Y型馬達(dá)繞組 
針對(duì)△型與Y型馬達(dá)繞組(無(wú)中心抽頭式)無(wú)法直 接進(jìn)行直流電阻量測(cè)的問(wèn)題， Chroma 19036 具有馬達(dá)繞線電阻計(jì)算功能， 經(jīng)計(jì)算後得 到R1,R2,R3的數(shù)值。

40通道掃描測(cè)試 
A190359掃描器提供16個(gè)測(cè)試通道，每個(gè)通道 都可設(shè)定為H(高壓輸出)，L(參考點(diǎn))或是Off(不 設(shè)定)。19036與A190359組合可應(yīng)用於多PIN或 少量多樣型之待測(cè)物 以及cell單元式產(chǎn)線，單 站完成所有測(cè)試。